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FE-SEM 場發射掃描電子顯微鏡 詳細摘要： 特征●半漏磁物鏡（semi-in-lens）,適合觀察和分析納米材料
產品型號： 所在地：蘇州市 更新時間：2024-04-07 參考價： 面議 在線留言 -
鎢燈絲掃描電鏡 詳細摘要： 特征1、自動連續偏壓技術和IFT燈絲監控技術2、優異的觀察能力3、多探頭成像系統4、強大的樣品適用性
產品型號： 所在地：蘇州市 更新時間：2024-04-07 參考價： 面議 在線留言 -
臺式掃描電鏡 詳細摘要： 特征1、重新優化了光路
產品型號： 所在地：蘇州市 更新時間：2024-04-07 參考價： 面議 在線留言